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發(fā)射強度和阻尼匹配均可調(diào)節(jié)，以獲得*佳探傷性能 |
 聲速測量和探頭標定方便快捷 |
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高存儲容量，并能根據(jù)探傷參數(shù)和波形數(shù)據(jù)自動生成探傷報告 |
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軟件可拓展性強，可根據(jù)不同的探傷需求加入特定的探傷工藝 |
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峰值記憶功能可隨時捕獲閘門內(nèi)波形的*高點位置 |
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擴展功能可把閘門內(nèi)的波形擴展到整個波形顯示區(qū)進行顯示（圖1） |
波形對比功能可將存儲的波形調(diào)用作為背景同實時波形進行對照（圖2）
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圖1 波形擴展 |
圖2 波形對比 |
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凍結(jié)功能用來凍結(jié)屏幕波形，方便分析波形 |
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自動增益功能可快速自動將閘門內(nèi)波形調(diào)節(jié)至預設(shè)高度 |
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曲面修正功能可根據(jù)曲面的曲率自動修正為缺陷相對于弧面的位置 |
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內(nèi)置25針并行打印接口，可直接連接打印機進行打印 |
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內(nèi)置高速USB接口和RS232串行接口，可與計算機進行通訊 |
DAC曲線（圖3）
制作簡單，操作方便
曲線參數(shù)可根據(jù)不同標準任意調(diào)節(jié)（曲線完成前/后均可調(diào)節(jié)）
曲線隨增益和范圍等的參數(shù)改變而改變 |
AVG曲線（圖4）
記錄一個參考點就可以自動計算和生成曲線
可根據(jù)參考點的當量大小，生成其它當量的AVG曲線
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圖3 AVG曲線應用 |
圖4 DAC曲線應用 |
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B掃描：共設(shè)置厚度掃描（圖5）和聲程幅度掃描（圖6）兩種模式
掃描圖形可存儲、調(diào)用、瀏覽、打印或者與計算機進行通訊
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圖5 B掃描
（厚度模式） |
圖6 B掃描（聲程幅度模式
反復掃描CSK-3A試塊一端） |
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包絡功能可記錄下屏幕內(nèi)波形的變化軌跡（圖7）
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圖7 包絡圖 |
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