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    無損檢測(cè)解決方案專家探傷儀/硬度計(jì)/測(cè)厚儀/探傷系統(tǒng)
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    EPK袖珍型700系列涂鍍層測(cè)厚儀

    產(chǎn)品詳情
    德國EPK袖珍型700系列涂鍍層測(cè)厚儀
    新的MINITEST 700產(chǎn)品線,加強(qiáng)了德國EPK(Elektrophysik)公司在全球涂層測(cè)厚市場(chǎng)的領(lǐng)導(dǎo)地位。
    -**的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理)技術(shù)提升了測(cè)量的**性
    -測(cè)量范圍達(dá)15mm,可F、N或FN探頭,提供內(nèi)置或外接探頭
    -FN探頭自動(dòng)識(shí)別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯(cuò)
     
    技術(shù)參數(shù):

    主機(jī)型號(hào)

    MINITEST 720

    MINITEST 730

    MINITEST 740

    探頭類型

    內(nèi)置

    外置

    內(nèi)置外置可換

    數(shù)據(jù)記憶組數(shù)

    10

    10

    100

    存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量

    *多10,000個(gè)

    *多10,000個(gè)

    *多100,000個(gè)

    統(tǒng)計(jì)值

    讀值個(gè)數(shù)、*小值、*大值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)方差、變異系數(shù)、組統(tǒng)計(jì)值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置)

    校準(zhǔn)程序符合國際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范

    ISO、SSPC、瑞典標(biāo)準(zhǔn)、澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)

    校準(zhǔn)模式

    出廠設(shè)置校準(zhǔn)、零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)、三點(diǎn)校準(zhǔn),使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值

    極限值監(jiān)控

    聲、光報(bào)警提示超過極限

    測(cè)量單位

    μm,mm,cm;mils,inch,thou

    操作溫度

    -10℃~60℃

    存放溫度

    -20℃~70℃

    數(shù)據(jù)接口

    IrDA 1.0(紅外接口)

    電源

    2節(jié)AA電池

    標(biāo)準(zhǔn)

    DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
    ASTM B244,B499,D7091,E376
    AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2

    體積

    157mm x 75.5mm x 49mm

    重量

    約175g

    約210g

    約175g(內(nèi)置)/230g(外置)

     

    探頭:

    探頭特性

    F1.5,N0.7,F(xiàn)N1.5

    F2

    F5,N2.5,F(xiàn)N5

    F15

    F

    N

    F

    F

    N

    F

    測(cè)量范圍

    0~1.5mm

    0~0.7mm

    0~-2mm

    0~5mm

    0~2.5mm

    0~15mm

    使用范圍

    小工件,薄涂層

    粗糙表面

    標(biāo)準(zhǔn)探頭,使用廣泛

    厚涂層

    測(cè)量原理

    磁感應(yīng)

    電渦流

    磁感應(yīng)

    磁感應(yīng)

    電渦流

    磁感應(yīng)

    信號(hào)處理

    探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理(SIDSP)

    **度

    ±(1μm+0.75%)

    ±(1.5μm+0.75%)

    ±(5μm+0.75%)

    重復(fù)性

    ±(0.5μm+0.5%)

    ±(0.8μm+0.5%)

    ±(2.5μm+0.5%)

    低端分辨率

    0.05μm

    0.1μm

    1μm

    *小曲率半徑(凸)

    1.0mm

    1.5mm

    5mm

    *小曲率半徑 (凹,外置探頭)

    7.5mm

    10mm

    25mm

    *小曲率半徑 (凹,內(nèi)置探頭)

    30mm

    30mm

    30mm

    *小測(cè)量面積

    Φ5mm

    Φ10mm

    Φ25mm

    *小基體厚度

    0.3mm

    40μm

    0.5mm

    0.5mm

    40μm

    1mm

    連續(xù)模式下測(cè)量速度

    每秒20個(gè)讀數(shù)

    單值模式下*大測(cè)量速度

    每分鐘70個(gè)讀數(shù)


    標(biāo)簽:

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